基本資料
| 攤位 | I3216 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Microscopes: Atomic Force Microscopes (AFM) · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Microscopes: Scanning Electron Microscope (SEM); Focused Ion Beam (FIB), Transmission Electron Micr · X-ray; XRF; 3-D X-Ray; LEXES Systems · Test Services or Consulting |
| 網站 | www.sgservice.com.tw/en |
公司簡介
SGService 長期致力於在 X 光分析服務及相關設備領域提供最佳的整體解決方案。憑藉世界領先的創新「付費」式高階同步輻射 X 光技術團隊，搭配關鍵的內部互補性量測能力，以更直接、省時且具成本效益的方式，為非專業客戶帶來非凡的體驗。
展出產品
SAXS/WAXS 在軟物質中的應用 我們致力於為研發與製造領域提供「原因分析」與「問題解決」的技術支援，並運用創新的分析技術與物理分析方法。我們始終致力於掌握尖端的分析技術與全新的分析方法。 SGService 重新定義先進半導體製造的在線 X 光檢測 SGService 於 SEMICON 2026 – 歡迎蒞臨 I3216 攤位 透過 Rietveld refinement 測定未知晶體結構。研究混合相與晶粒尺寸分佈。 2D 奈米 X 光螢光分析 (n-XRF) 提供奈米尺度的詳細元素映射與高解析度成像，為研究人員與科學家提供關於樣品組成的寶貴見解。具備 80 nm 空間解析度，可用於表徵局部元素分佈，且相較於 SEM 具有更高的塊體靈敏度。無需特殊的預處理要求。 具備 80 nm 空間解析度的 Laue 繞射，可用於表徵局部變形、應力與應變分配、疲勞、晶粒成長及再結晶。 吸收映射能更深入了解材料在不同處理條件下不均勻分佈（邊緣位移）的情況。 nano-TXM 使用毛細管達到 60 nm 空間解析度，能夠執行 2D 吸收對比成像與 3D 電腦斷層掃描。此技術廣泛應用於軟物質與生物材料。 GIWAXS 是一種結構測量技術，透過掠入射收集廣角散射，以涵蓋大面積樣品以獲取平均資訊。這些較大的 q 值對應於 延伸 X 光吸收細微結構 (EXAFS) 技術利用 X 光吸收光譜中吸收邊緣之後的振盪，來觀察材料中不同類型原子的細微結構與電子組態。它是研究材料微觀性質的重要工具，主要聚焦於局部原子結構，以測定相鄰原子的距離、類型與數量。 XRD 是一種非破壞性方法，可提供關於晶體結構、相、取向或織構、晶粒尺寸、結晶度、應變及晶體缺陷的資訊。
能力與產品項目
- 60 nm 空間解析度 nano-TXM
- 80 nm 局部變形、應力與應變分析用 Laue diffraction
- 80 nm 空間解析度的 2D nano-XRF 元素分佈圖
- XRD 非破壞性晶體結構分析
- 先進半導體製造用線上 X-ray 檢測
- 同步輻射 X-ray 分析服務
- 用於未知晶體結構判定的 Rietveld refinement
- 軟凝聚物質 SAXS/WAXS 分析