基本情報
| ブース | N1092 |
| 国 | KR |
| 製品カテゴリ | Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Overlay Measurement · Package Inspection; Lead Scanners · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Sensors · Measurement; Inspection Service |
| ウェブサイト | www.nexensor.com |
会社概要
nexensor Inc.は、スマートファクトリーにおける製品製造および品質管理プロセス向けの計測センサーとソリューションを開発しています。当社が絶え間ない技術開発に取り組む原動力は、好循環を生み出したいという志にあります。専門の研究者が開発した信頼できるセンサーが製品品質とプロセス効率を高め、そこから製造された知能化製品の利便性を消費者が享受します。正確で精密な計測結果はビッグデータとして活用され、AIの基盤となり、世界水準の計測ソリューションへと生まれ変わります。当社は信頼できる計測結果を提供し、Nexensorの製品・技術を使用しているという事実そのものが、お客様の顧客に対する品質保証となるよう努めます。
対応領域・製品
- AIインフラ向けリアルタイム通信デバイス
- スマートファクトリー向け計測センサー
- 品質管理計測センサーソリューション
- 物理現象マッピングセンサー
- 状態監視デバイス
- 計測データ処理デバイス