基本資料
| 攤位 | N1092 |
| 國別 | KR |
| 產品分類 | Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Overlay Measurement · Package Inspection; Lead Scanners · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Sensors · Measurement; Inspection Service |
| 網站 | www.nexensor.com |
公司簡介
nexensor Inc. 為智慧工廠的產品製造與品質管控流程開發量測感測器與解決方案。驅動我們不斷投入技術開發的，是打造良性循環的渴望：由專業研究人員開發的可靠感測器提升產品品質與製程效率，消費者則享受由此製造出的智慧產品所帶來的便利。準確且精密的量測結果將作為大數據，成為AI的基礎，並重生為世界級的量測解決方案。我們將提供可靠的量測結果，使得「使用Nexensor的產品與技術」這一事實本身，即可作為向您的客戶提出的品質保證。
能力與產品項目
- AI 基礎設施即時通訊裝置
- 品質管制量測感測器解決方案
- 智慧工廠量測感測器
- 物理現象映射感測器
- 狀態監測裝置
- 量測資料處理裝置