기본 정보
| 부스 | J2755 |
| 국가 | US |
| 웹사이트 | www.johnstech.com |
회사 소개
Johnstech International Corporation은 1991년에 설립되었으며 스스로를 반도체 테스트 분야의 글로벌 R&D 리더로 설명하고 자동차, 상업, 산업 응용을 위한 테스트 솔루션을 제공합니다. 회사는 OSAT, 파운드리, IDM, EDA 기업과 협력해 테스트 컨택터와 소켓을 개발합니다. 포트폴리오에는 BGA, LGA, QFN, DFN, QFP, WLCSP 소자용 turnkey 및 맞춤형 테스트 소켓이 포함되며 자동차, 상업, 산업, 소비자 전자, 통신, 데이터센터 응용을 포괄합니다. 특허 Short Contact® 기술은 로드보드와 피시험 소자 사이의 전기적 길이를 줄여 정확도와 신뢰성을 높이며 항공우주와 의료기기 응용에도 사용됩니다. 본사는 Minneapolis, MN에 있고 글로벌 입지를 갖추며 출시 기간 단축, 테스트 비용 절감, 수율 향상을 위한 서비스를 제공하며 YARI™ 제품군은 0.3mm까지의 pitch와 -65°C에서 175°C의 온도 범위를 제공합니다. 회사는 글로벌 칩 부족에 대응해 제조 역량을 확대하여 리드타임을 줄이고 처리량을 높였으며 지역 공급망과 보호성 생산 능력으로 어려운 시기에도 전 세계 고객 생산을 유지했다고 설명합니다. 전문 영역은 웨이퍼 레벨 및 패키지 소자 테스트를 포함하며 소량 프로토타입부터 대량 생산까지 지원하고 상담부터 도입 후 지원까지 제공합니다. 회사는 ISO 인증, RoHS compliance, 품질 및 환경 정책, 지식재산, seminar activities를 기업 프로그램으로 제시합니다. Johnstech은 Short Contact 솔루션이 유지보수 전 평균 100,000회 삽입을 제공하고 유지 가능한 contacts와 elastomers를 통해 컨택터 수명을 1,000,000회 삽입까지 연장할 수 있다고 설명하며 기존 소켓은 약 10,000회에서 유지보수하고 30,000에서 50,000회 테스트 후 교체한다고 설명합니다. 구성 가능한 컨택터는 엔지니어링 특성화 실험실과 생산 현장 모두에서 수동 및 자동 테스트 환경에 적용되어 소자 재characterization 필요를 줄이도록 설계됩니다. 표준 housing을 사용하고 contact 수와 pitch 변경에 적은 재설비만 필요해 맞춤형 테스트 컨택터를 4주에서 8주 안에 제조할 수 있으며 기존 공정의 4개월에서 6개월보다 짧고 일부 맞춤형 소켓 설계에 드는 $50,000에서 $200,000의 일회성 엔지니어링 비용을 피할 수 있다고 설명합니다. Johnstech은 직원의 비영리단체 기부를 matching하고 사회·문화 단체에 기업 기부를 하며 내부 재활용과 인체공학적 작업환경을 지원한다고 설명합니다. 회사 연혁에는 반도체 제조업체가 컨택터 하나에서 약 10,000회 테스트를 얻고 있었지만 약 10배의 기계 수명을 원했으며 re-screening은 통상 집적회로의 5-10%에 수행되고 recovery rate는 30-40%였다고 설명되어 있습니다. Short Contact®는 더 넓고 높으며 강성이 낮은 cantilever-style contacts 대신 특수 도금된 S-shaped short-rigid contact를 사용해 유효 전기 길이를 줄이고 bandwidth를 높여 guard bands를 줄이고 생산 수율을 높인다고 설명됩니다. Johnstech은 component cost의 20에서 30%가 테스트에 귀속될 수 있다고 설명하며 re-screens를 줄이고 실험실에서 양산으로 device characterization을 다시 계산할 필요를 없애 테스트 비용을 낮추고자 합니다. RF, microwave, wireless IC devices용으로 회사는 test electronics와 피시험 소자 사이의 유효 전기 길이를 더 줄이는 1mm contact를 설명합니다.
전시 제품
자동차 테스트에서 회사는 Audio & Infotainment, Vehicle Networking, Powertrain 및 기타 자동차 소자 응용을 제시하며 다기능성, 신뢰성, 테스트 수율, 생산 throughput을 강조합니다. Leaded ROL® 200KR2 XT Automotive Contactor는 Xtreme Temperature 대응 제품으로 삼중 온도 테스트 목표에 맞게 설계되었으며 표준 contactor와 socket 온도 한계 내에서 테스트하더라도 견고한 설계가 추가 설계 여유를 제공한다고 설명합니다. final test 전반에서 Johnstech은 characterization부터 production까지 엔지니어링 지원과 solder oxides를 뚫는 특허 wipe-action scrub mechanism을 설명합니다. configuration-dependent Product Performance Chart에는 ROL 100A 80%, ROL 200 37.5%, ROL 200 XT 37.5%, ROL 200KR Force Contact 24.5%, Edge 400A 12.5%, ROL 400 5%가 기재되어 있습니다. XT™ Contactors는 안정적인 삼중 온도 테스트용으로 설계되며 -65°C에서 +175°C의 자동차 소자 테스트에 승인된 독자적인 housing 및 elastomer 조합을 사용하고 다른 고온 및 저온 테스트에도 적용됩니다. ES-P® 시리즈는 ESD-sensitive precision analog, mixed-signal, RF 응용용이며 <100V까지 검증되었고 테스트 시스템의 triboelectric charge를 증가시키지 않는다고 설명됩니다. single-ended Spring Probe는 기존 pins보다 더 일관된 CRES를 제공한다고 설명되며 floating alignment plates와 호환되고 BGA Crown DUT 및 QFN/LGA Spear tips를 제공하며 0.3mm까지의 pitch, -55에서 155°C의 온도 범위, 500,000 cycles 수명을 갖습니다. Kelvin-Ready™ 설계는 모든 I/O에 현장 구성 가능한 sense contacts를 사용해 정밀 Kelvin measurements와 test-system monitoring feedback loops를 지원하며 characterization 개선에 Kelvin을 사용하고 양산에서는 제거할 수 있습니다. Pad VROL® 및 Leaded VROL® test contactors는 특허 VROL® 기술을 Precision Analog, Mixed Signal, RF 테스트에 사용하며 consistent contact resistance, improved OEE, less frequent cleaning을 제시합니다. Manual Actuators는 정밀 IC 엔지니어링 및 소량 테스트용으로 repeatable alignment, consistent contact force, reliable performance를 제공합니다. Pad ROL® test contactors는 특허 ROL® 기술을 40 GHz까지의 RF 및 microwave communications devices 테스트에 사용하며 consistent contact resistance, repeatable results, higher first-pass yield를 제시합니다. Leaded ROL® contactors는 Precision Analog, Mixed Signal, RF 테스트용으로 consistent contact resistance, improved OEE, less frequent cleaning을 제시합니다. WLCSP probe array는 effective probe signal-transmission path를 포함한 설계 매개변수를 최적화해 낮고 안정적인 contact resistance를 제공하며 stable and accurate test signals, increased yields, less retest를 제시합니다. 응용 예로 60-70 GHz point-to-point communications, 43.5 GHz satellite communication, mid-speed digital gyro, 2.4 GHz Bluetooth, low-speed analog current regulators, manifold air-pressure sensors 및 voltage regulators, 77-81 GHz radar, low-speed digital tire-pressure sensors가 기재되어 있습니다.
역량 및 제품
- BGA/LGA/QFN/DFN/QFP/WLCSP 맞춤 테스트 소켓
- Short Contact® 반도체 테스트 컨택터
- -65°C~175°C 삼온 테스트 컨택터
- 0.3mm급 BGA/QFN/LGA 스프링 프로브
- Kelvin-Ready™ 정밀 측정 컨택터
- 40 GHz RF/마이크로파 테스트 컨택터
- WLCSP 저접촉저항 프로브 어레이