基本資料
| 攤位 | J2755 |
| 國別 | US |
| 網站 | www.johnstech.com |
公司簡介
Johnstech International Corporation 成立於 1991 年，並將自身描述為半導體測試領域的全球研發領導者，為車用、商用與工業應用提供測試解決方案。公司與 OSAT、晶圓代工廠、IDM 與 EDA 公司合作開發測試接觸器與測試座。其產品組合包括適用於 BGA、LGA、QFN、DFN、QFP 與 WLCSP 元件的 turnkey 與客製化測試座，涵蓋車用、商用、工業、消費電子、電信與資料中心應用。其專利 Short Contact® 技術藉由縮短 load board 與待測元件之間的電氣長度來提升準確性與可靠性，應用包括航太與醫療器材。公司總部位於 Minneapolis, MN，並具全球布局，提供旨在加速上市、降低測試成本與提升良率的服務；YARI™ 產品線包含低至 0.3mm 的 pitch，溫度範圍為 -65°C 至 175°C。公司表示因應全球晶片短缺而擴充製造能力，以縮短交期並提高產出，本地供應鏈與保護性產能則協助其在挑戰時期維持生產、服務全球客戶。其專業涵蓋晶圓級與封裝元件測試，從小量原型到大量生產，並提供從諮詢到導入後支援的服務。公司列有 ISO 認證、RoHS compliance、品質與環境政策、智慧財產權與 seminar activities 等企業項目。Johnstech 表示 Short Contact 解決方案平均可在需要維護前完成 100,000 次插入，透過可安裝與維護的 contacts 與 elastomers 可將接觸器壽命延長至 1,000,000 次插入；相較之下，其描述的傳統測試座約每 10,000 次插入需維護，並在 30,000 至 50,000 次測試後完全更換。其可彈性配置的接觸器適用於工程特性分析實驗室與生產線，也可在手動與自動測試環境中使用，以減少元件重新 characterization 的需求。公司使用標準 housing，contact 數量與 pitch 的變更只需少量重新治具，並表示客製測試接觸器可在四至八週完成製造，而傳統流程需四至六個月，同時可避免部分客製測試座設計常見的 $50,000 至 $200,000 一次性工程費用。Johnstech 亦表示會 matching 員工對非營利組織的捐款、向社會與文化組織提供公司捐助、推動內部回收，並建立符合人體工學的工作環境。 公司沿革提到，半導體製造商當時從一個接觸器可能取得約 10,000 次測試，但希望機械壽命提升約十倍；re-screening 通常用於 5-10% 的積體電路，recovery rate 為 30-40%。Short Contact® 採用特殊鍍層的 S-shaped short-rigid contact，取代較寬、較高且較不剛性的 cantilever-style contacts，以縮短有效電氣長度並提高 bandwidth，使 guard bands 可縮小以提升生產良率。Johnstech 表示 20 至 30% 的 component cost 可歸因於測試，並希望透過減少 re-screens 及避免從實驗室到量產重新計算 device characterization 來降低測試成本。對 RF、microwave 與 wireless IC devices，公司描述一種 1mm contact，可進一步縮短 test electronics 與待測元件之間的有效電氣長度。
展出產品
在車用測試方面，公司列出的應用包括 Audio & Infotainment、Vehicle Networking、Powertrain 及其他車用元件，並強調多功能性、可靠性、測試良率與生產 throughput。Leaded ROL® 200KR2 XT Automotive Contactor 具 Xtreme Temperature 能力，設計用於三溫測試目標；公司表示其強固設計即使測試溫度位於標準 contactor 與 socket 限制範圍內，也能提供額外設計裕度。在 final test 各階段，Johnstech 描述從 characterization 到 production 的工程支援，以及用於穿透 solder oxides 的專利 wipe-action scrub mechanism。其 configuration-dependent Product Performance Chart 列出 ROL 100A 為 80%、ROL 200 為 37.5%、ROL 200 XT 為 37.5%、ROL 200KR Force Contact 為 24.5%、Edge 400A 為 12.5%、ROL 400 為 5%。XT™ Contactors 設計用於穩定的三溫測試，採用專有 housing 與 elastomer 組合，通過 -65°C 至 +175°C 的車用元件測試核准，同時也適用於其他高溫與低溫測試。ES-P® 系列用於 ESD-sensitive 的 precision analog、mixed-signal 與 RF 應用，已證明至 <100V，並被描述為不會增加測試系統中的 triboelectric charge。single-ended Spring Probe 被描述為比傳統 pins 提供更一致的 CRES，支援 floating alignment plates，提供 BGA Crown DUT 與 QFN/LGA Spear tips，pitch 低至 0.3mm，溫度範圍 -55 至 155°C，壽命 500,000 cycles。Kelvin-Ready™ 設計使用可現場配置於任一 I/O 的 sense contacts，以支援精密 Kelvin measurements 與 test-system monitoring feedback loops；Kelvin 可用於改善 characterization，並可在量產時移除。Pad VROL® 與 Leaded VROL® test contactors 採用專利 VROL® 技術，用於 Precision Analog、Mixed Signal 與 RF 測試，並列出 consistent contact resistance、improved OEE 與 less frequent cleaning。Manual Actuators 用於精密 IC 的工程與低量測試，提供 repeatable alignment、consistent contact force 與 reliable performance。Pad ROL® test contactors 採用專利 ROL® 技術，用於最高 40 GHz 的 RF 與 microwave communications devices，並列出 consistent contact resistance、repeatable results 與 higher first-pass yield。Leaded ROL® contactors 用於 Precision Analog、Mixed Signal 與 RF 測試，並列出 consistent contact resistance、improved OEE 與 less frequent cleaning。WLCSP probe array 被描述為透過最佳化包括 effective probe signal-transmission path 在內的工程參數，提供低且穩定的 contact resistance，並列出 stable and accurate test signals、increased yields 與 less retest。列出的應用例包括 60-70 GHz point-to-point communications、43.5 GHz satellite communication、mid-speed digital gyro、2.4 GHz Bluetooth、low-speed analog current regulators、manifold air-pressure sensors 與 voltage regulators、77-81 GHz radar，以及 low-speed digital tire-pressure sensors。
能力與產品項目
- BGA/LGA/QFN/DFN/QFP/WLCSP 客製測試座
- Short Contact® 半導體測試接觸器
- -65°C 至 175°C 三溫測試接觸器
- 0.3mm 級 BGA/QFN/LGA Spring Probe
- Kelvin-Ready™ 精密量測接觸器
- 40 GHz RF/微波測試接觸器
- WLCSP 低接觸電阻探針陣列