基本情報
| ブース | K3082 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.intifar.com/company_en.php |
会社概要
Intifar Global Co., Ltdは2012年に設立され、半導体産業向けにインテリジェントなインライン監視ソフトウェアソリューションとサービスを提供しています。R&Dチームは、生産ラインで高精度、高安定性、長期の静電気拡散保護を提供するESDソリューションも開発し、ソフトウェアと監視に加えて静電気保護の能力を持っています。同社は自社の技術開発チームを持ち、多くのメンバーが半導体関連分野の出身で、半導体産業の経験を生かして統合ソリューションを迅速かつ正確に提供します。主な製品・サービス分野にはソフトウェア開発、ハードウェア監視製品、ESD coating、統合ソリューション設計が含まれ、産業向けハードウェア・ソフトウェア統合の経験が支えています。Intifar Global Co., Ltdは先進R&Dとビッグデータ解析を組み合わせてInternet of Thingsのインテリジェント用途へ展開し、顧客需要に応じて効率最適化のカスタムプログラムを提供します。同社は製品性能向上、顧客期待への対応、多面的な資源統合による完全なソリューション提供のため自社技術を継続的に改善し、顧客満足と市場への利益を事業管理上の目標としています。
展示製品
半導体試験の提供内容にはPart Average Test Yield Management向けのInline Test Data Analysisが含まれ、インライン試験データ解析をPAT歩留まり管理に直接結び付けます。Shieldは半導体試験向けのInline Test Data Analyzerおよびリアルタイム監視・制御システムで、リアルタイムインテリジェンスダッシュボード、ドリルダウン可能な自動問題分析、解決策の推奨により、生産データを生産性へつなげます。Shield Central Data Managementはリアルタイム監視・制御と、製造データ品質および信頼性問題の予防に向けた高度解析を組み合わせ、量産試験情報と検出状態を中央で確認できるようにします。Production Monitorは現在の生産環境を変更せず、ATEからtouchdownごとのリアルタイムデータを収集し、既存の試験フローを維持したまま量産試験情報を取得します。Inline SPC ControlはDevice / Test Programごとのルール設定、Inline SPC Gating、Inline Tester Controlをサポートし、統計的工程管理ルールと半導体testerの直接監視を結び付けます。対応testerとしてAdvantest 93000、Teradyne PlatformのUltraFlexとJ750 Series、LTX、VLCT、D10 / DXが記載されています。データ範囲はLot Information、HardBin、SoftBin、Test Time、Index Time、parametricとfunctional resultを含む個別test itemで、監視、解析、歩留まり管理機能に使用されるデータ項目を提供します。
対応領域・製品
- 半導体インライン監視ソフトウェア
- 生産ラインESD静電気拡散保護
- 半導体リアルタイム試験データ解析・監視（Shield）
- Part Average Test歩留まり解析
- ATE Touchdownリアルタイムデータ収集
- Inline SPC Gating・Tester Control