基本資料
| 攤位 | I2101 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.hmtech.com.tw |
公司簡介
宏明科技有限公司創立於 2002 年，並將自身描述為專業光學量測系統製造商。公司整合設計、研究開發、製造與系統整合，提供客製化光學量測解決方案。光學量測專長包括穿透率、反射率、色度、光學膜厚、影像檢測、高光譜影像與顯微光譜。宏明科技有限公司亦以 Precision Custom Spectroscopy 與 DUV Metrology 作為技術定位的一部分。公司在精密客製化光譜工作中開發客製化光譜儀器，並依客戶需求設計與組裝客製化光學檢測系統。公司表示在螢光光譜、拉曼光譜與近紅外光光譜檢測領域已有多年經驗。近期研發重點包括機器人應用、自動化線上檢測、高光譜系統開發與機器視覺技術。光學量測系統應用於光學鍍膜、薄膜材料、PLED and OLED、Micro LED、太陽能電池及 silicon wafer 的研發、製造與品質控制。應用亦包括一般生物及化學實驗、表面處理、發光材料、生物晶片與微機電系統，並將光學特性檢測技術與自動化整合。宏明科技有限公司表示具備光學檢測設備研發、生產、設計與維修的經驗與技術，可依客戶需求設計及組裝客製化光學檢測系統。公司亦代理銷售國內外理化實驗相關儀器、耗材與藥品，作為光譜應用產品供應範圍的一部分。2016 年成立 Hong-Ming Technology Calibration Laboratory，並於 2017 年 7 月通過 TAF (Taiwan Accreditation Foundation) 授予的 ISO/IEC 17025 認證。公司表示該認證使實驗室成為第三家公正認證校正機構，且宏明科技有限公司已有超過十年提供客製化光學量測解決方案的經驗。
展出產品
穿透率與吸收率量測服務涵蓋 200-1700nm，可量測散射或非散射的透明與半透明樣品。具名樣品包括玻璃、壓克力、PET、RGB 彩色濾光片、光學鍍膜片、各類眼鏡鏡片、偏光片、擴散片、薄膜太陽能電池、UV-IR cut 元件、一般或微小鏡頭、觸控面板玻璃、IR 孔、ICON 孔、抗藍光保護貼、機能性薄膜、各種溶液、生物細胞及其他透明或半透明樣品。反射率量測同樣涵蓋 200-1700nm，散射樣品採用 8/D 或 D/8 式積分球量測法，非散射樣品則採用可變角度平台絕對反射量測法。反射率樣品包括玻璃、壓克力、PET、RGB 彩色濾光片、光學鍍膜片、眼鏡鏡片、反射鏡、抗反射鏡、擴散片、太陽能電池、生物晶片，以及平面或曲面樣品。公司亦提供 LED 顏色與光通量量測、色彩量測及光學膜厚量測。針對色彩量測，公司說明穿透光與反射光包含散射光及鏡像光，兩者呈色機制不同，因此檢測前需先討論量測方式。光學膜厚量測樣品包括 SiO2、SiNOX、ITO、ZnO、CuO 等材料鍍於玻璃、壓克力、PET 與 Silicon wafer 的光學薄膜，以及 GaN on Sapphire、彩色濾光片與太陽能電池。宏明科技有限公司表示可提供一次免費量測服務與量測數值，協助客戶進行儀器評估。MFS-630-DUV 是深紫外光可變角度穿透反射量測系統，可量測穿透率與絕對反射率，並自動計算吸收率。系統針對 Deep UV 研發設計，以氮氣填充與低溫受控環境降低空氣干擾，並採用絕對量測光路以避免參考片退化造成的數據偏差。規格波長範圍為 190-510 nm 或依客戶需求訂製，光學解析度 1 nm-5 nm，穿透率與反射率量測角度皆為 10°-70° 連續可變角度，全光譜範圍掃描約 30 分鐘。系統硬體包括高精密 Monochromator、Deuterium Lamp、DUV Silicon Sensor，並支援 N2 Purge 及低溫受控環境量測。應用包括半導體前段光阻劑特性分析與 Reticle 反射率檢測、DUV 窄頻帶濾光片、抗反射膜與高反射鏡、RGB 彩色濾光片、IR-cut 濾除率與偏光片鏡頭，以及生物晶片基材螢光背景分析與蛋白質吸光度變化追蹤。MFS-630-DUV 亦可針對特殊樣品夾具或特定波長需求進行客製化。Hyperspectral Imaging System 的鹵素光源波長範圍為 400-800nm 與 400-1000nm，氙燈光源為 300-800nm 與 300-1000nm，近紅外可調波長為 900-1700nm，並可客製波長範圍。其他規格包括平均燈泡壽命 1000hr、SMA905 或客製導光光纖接頭、2nm 光譜解析度、10nm VIS 光譜半高全寬、±2nm 再現性、50nm/sec 掃描速度、RS232 與 USB 控制介面，以及 110V 電壓。
能力與產品項目
- 200–1700 nm 穿透率與吸收率量測服務
- 200–1700 nm 反射率量測服務
- LED 顏色與光通量量測服務
- 色彩量測服務
- 光學薄膜厚度量測服務
- 190–510 nm 深紫外可變角度穿透反射量測系統
- 客製化光學檢測系統設計與組裝
- 光學檢測設備維修
- 螢光光譜檢測
- 拉曼光譜檢測
- 近紅外光譜檢測
- 自動化線上光學檢測整合
- 機器視覺技術研發
- 高光譜影像系統
- 顯微光譜檢測系統
- 理化實驗儀器代理
- 理化實驗耗材代理
- 理化實驗藥品代理