基本情報
| ブース | S7658 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Probe Card Maintenance and Analysis Systems · Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers · Probe Cards; DUT boards and other probing accessories (incl Ceramic and Special Purpose Probe Cards) · Test Sockets; Contactors and Contact accessories · Connectors; Plugs; Interconnects; Cable; Wire |
| ウェブサイト | www.ccpcontactprobes.com |
会社概要
C.C.P. Contact Probes では、画期的なプローブ技術によって半導体テストの進化をリードしています。数十年にわたり、当社の革新的なコンタクトソリューションは、精度、耐久性、性能において新たなベンチマークを打ち立ててきました。当社の最先端プローブは、今日の半導体業界の厳しい要求を満たすよう設計されており、民生用電子機器や産業システムから自動車、ハイテク市場まで、多様な用途にわたって比類のない信頼性とオーダーメイドのソリューションを提供します。革新への情熱と卓越性への揺るぎないコミットメントに突き動かされ、緻密なエンジニアリングと先進の製造プロセスを組み合わせて、世界中のお客様を支援します。当社の最先端のポートフォリオをご覧いただき、精密設計されたプローブがテストサイクルの短縮、効率の向上、品質基準の引き上げにどのように役立つかをご確認ください。C.C.P. Contact Probes では、半導体イノベーションの未来を形づくる中で、一つひとつのコンタクトが重要です。
対応領域・製品
- E-Beam、光学、ウェハプロービング装置
- Probe Card メンテナンスおよび解析システム
- 半導体試験用コンタクトプローブ
- 半導体試験用途向け精密設計プローブ