基本資料
| 攤位 | S7658 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Probe Card Maintenance and Analysis Systems · Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers · Probe Cards; DUT boards and other probing accessories (incl Ceramic and Special Purpose Probe Cards) · Test Sockets; Contactors and Contact accessories · Connectors; Plugs; Interconnects; Cable; Wire |
| 網站 | www.ccpcontactprobes.com |
公司簡介
在 C.C.P. Contact Probes，我們以突破性的探針技術引領半導體測試的演進。數十年來，我們的創新接觸解決方案在精度、耐用性與效能方面樹立了新標竿。我們最先進的探針經過精心設計，以滿足當今半導體產業的嚴苛需求——在從消費電子、工業系統到汽車與高科技市場的多元應用中，提供無與倫比的可靠性與量身打造的解決方案。秉持對創新的熱情與對卓越的堅定承諾，我們將縝密的工程設計與先進的製造製程結合，賦能全球客戶。歡迎探索我們尖端的產品組合，了解我們精密設計的探針如何協助縮短測試週期、提升效率並提高品質標準。在 C.C.P. Contact Probes，當我們塑造半導體創新的未來時，每一次連接都至關重要。
能力與產品項目
- E-Beam、光學與晶圓探針設備
- Probe Card 維護與分析系統
- 半導體測試應用的精密工程探針
- 半導體測試接觸探針