基本資料
| 攤位 | N1068 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Die Inspection; Die Shear · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Package Inspection; Lead Scanners · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Handlers; Positioner Systems · Memory Test Systems |
| 網站 | www.tlhome.com.tw |
公司簡介
公司簡介：大量科技（Ta Liang）成立於 1980 年，是 PCB、顯示器與半導體設備的專業製造商。2018 年，我們將新業務拓展至半導體市場。為貼近客戶需求，設於新竹的新半導體事業部擁有一支獨立團隊，成員涵蓋業務、研發與服務。大量的半導體事業部提供專業的檢測解決方案，主要服務在於整合機器視覺、光學檢測、電性探測及其他系統。大量擁有多項核心技術，例如控制器、機構、軟體設計與光機（optomechanics）等。我們的技術服務能精準滿足客戶在檢測上的需求。我們以專業為客戶提供最佳品質、高性價比與全方位的服務。
能力與產品項目
- die inspection 與 die shear
- 光學檢測整合
- 光學顯微鏡
- 共軛焦掃描與 3-D video 顯微鏡
- 半導體檢測解決方案
- 機器視覺整合
- 缺陷、粒子、bump 與污染檢測
- 電性探針整合