基本情報
| ブース | N0038 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Cutting; Drilling; Laser ablation; Beveling Equipment · Vision; ID; Bar Code Systems · Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Fiber Optic Inspection Instruments · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Failure Analysis Systems · Optical Test Systems · Lamps (non Lithography), all type UV; LED and other · Piezo Electronic Components · Sensors · Windows |
会社概要
清和光学は精密光学技術と半導体検査用途に注力し、高品質な光学製品と専門的なソリューションを提供しており、半導体、電子、精密加工、研究開発、産業検査などの分野で幅広く活用されています。当社は光学システムの統合、工業用顕微鏡、画像検査、光学計測、および関連装置の開発に注力し、長年の技術経験と専門チームを活かして、お客様の工程品質・生産効率・検査精度の向上を継続的に支援しています。製品には各種光学レンズ、顕微鏡システム、画像取得装置、カスタマイズ光学ソリューションが含まれ、さまざまな産業ニーズに対応します。半導体製造がますます高精度化する潮流の中で、清和光学は先進的な光学技術と検査用途の開発に継続的に投資し、安定して高精度かつ高効率な製品とサービスを提供しています。私たちは品質、技術革新、顧客ニーズを重視し、お客様にとって信頼できる長期的なパートナーとなることを目指しています。今後も清和光学は光学技術の研究開発をさらに深化させ、自動化とインテリジェント検査の用途を組み合わせて、業界により包括的で競争力のあるソリューションを提供してまいります。
対応領域・製品
- カスタム光学ソリューション
- 光学測定装置
- 半導体検査用途向け光学システム設計と統合
- 産業検査向け光学レンズ
- 産業用顕微鏡システム
- 画像検査装置
- 自動化およびスマート検査技術