기본 정보
| 부스 | I3022, T9404 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.ohmplus.com |
회사 소개
Ohmplus Technology는 고효율 RF 및 위상 배열 측정 기술에 주력하며, R&D 검증부터 양산 테스트까지 아우르는 통합 솔루션을 제공합니다. 고주파화되고 복잡해지는 시스템 환경에서 전자 및 반도체 산업 고객이 테스트 시간을 단축하고 전체 테스트 비용을 절감하도록 지원합니다. Ohmplus의 제품 포트폴리오는 고처리량 측정과 모듈형 시스템 설계를 중심으로 하며, OTA 무선 테스트, RF FEM 그룹 테스트, 위상 배열 안테나 개발 키트를 포괄합니다. 해당 솔루션은 RF IC, RF FEM, AiP, 안테나 및 모듈 제조업체뿐 아니라 통신, 위성, 시스템 통합 산업의 고객에게 제공됩니다. OHM Fast OTA 무선 측정 시리즈는 안테나와 AiP 모듈에 대한 포괄적인 OTA 테스트 기능을 제공하며, 방사 패턴 특성 평가, 빔포밍 성능 평가, 5G NR OTA 테스트를 포함합니다. 이 시스템은 멀티밴드 스캐닝과 자동 측정 제어를 지원하므로 위상 배열 통신 및 레이더 제품의 양산에서 개별 제품 기능 테스트에 적합하며, R&D 단계의 안테나 튜닝, 빔포밍 보정, 시스템 수준 OTA 성능 평가에도 적합합니다. OHM Fast GT-S 시리즈는 RF FEM 디바이스용 멀티사이트 ATE 그룹 테스트 솔루션입니다. Ohmplus가 자체 개발한 위상 분배 및 RF 스위칭 모듈과 결합하여 4-site 또는 8-site 병렬 테스트를 지원하고 S-parameters, 출력 전력, EVM, mask, Wi-Fi/Bluetooth 테스트 등의 측정 기능을 통합합니다. PXI 기반 아키텍처와 그룹 테스트 기술을 활용하는 GT-S는 계측기 구성을 줄이면서 높은 테스트 처리량을 구현하여 패키징된 RF FEM 디바이스의 최종 테스트(FT)에 적합합니다. 또한 Ohmplus는 위상 배열 안테나 개발 키트와 탄소섬유 복합재 CATR 솔루션을 제공하여 저궤도 위성, B5G 통신, 방위 및 RF 반도체 테스트 공급망에 핵심 구성품을 공급합니다. 이러한 제품은 차세대 고주파 시스템 개발 및 측정 요구를 지원하여 고객이 보다 안정적이고 제어된 방식으로 R&D와 생산을 추진할 수 있도록 합니다.
전시 제품
OHMPLUS GT-S Middle Electronic Box (MEB)는 RF 프런트엔드 모듈 테스트를 위해 특별히 설계된 고집적 신호 확장 모듈입니다. 최소한의 계측기 구성으로 동기화된 멀티사이트 테스트를 구현하여 테스트 효율성과 유연성을 크게 향상합니다. 모듈형 설계: MEB는 포괄적인 RF, 디지털 및 전원 인터페이스를 제공하여 연결된 계측기에 따라 다양한 테스트 구성이 가능합니다. 광대역 테스트 기능: 내장 액티브 부품이 500 MHz부터 14 GHz까지의 주파수 범위를 지원합니다. 고전력 지원: 최대 +16 dBm의 연속 입력 전력을 지원하고 최대 16 dB의 출력 이득을 제공합니다. 멀티포트 지원: 최대 8개 포트의 동기화 테스트 기능을 제공하여 생산 처리량을 효과적으로 높입니다. S-parameter 테스트 모드에서 각 포트는 반사 손실과 삽입 손실을 측정할 수 있습니다. Vector Signal Analyzer/Generator (VSA/VSG)와 통합하면 시스템에서 변조 신호 분석 및 측정도 수행할 수 있습니다.
역량 및 제품
- 안테나/AiP OTA 테스트
- 위상 배열 다중 대역 자동 OTA 측정
- RF FEM 4/8스테이션 ATE 병렬 테스트
- RF FEM S파라미터/EVM/Wi-Fi/블루투스 테스트
- 위상배열 안테나 개발 키트
- 500MHz–14GHz 광대역 RF 테스트