기본 정보
| 부스 | Q5930 |
| 국가 | JP |
| 웹사이트 | www.ns-technologies.co.jp |
회사 소개
NS Technologies, Inc.는 IC 테스트 핸들러를 개발하며 North Star platform handler의 원 제조사입니다. 자동차용 IC 수요가 증가하면서 저온 IC 테스트의 중요성이 커짐에 따라 새로운 3온도 IC 테스트 핸들러를 개발했습니다. 또한 AI 응용 IC의 크기와 소비전력이 증가하면서 IC 테스트 중 동적 온도 제어 수요가 커지는 데 대응합니다. 탈착식 ATC 유닛을 IC 테스트 핸들러에 장착해 동적 온도 제어에 대응할 수 있습니다. North Star platform은 안정성과 UPH로 IC 테스트 핸들러 업계 표준으로 설명되며, 회사는 이 플랫폼을 통해 고객 생산성 향상을 지원합니다. 새로 개발한 3온도 핸들러는 NST 제품군에 편입될 예정이며 저온 IC 테스트 요구까지 제품 범위를 확장합니다. North Star platform handler의 원 제조사로서 NS Technologies, Inc.는 업계 상위 수준의 제품을 제공하고 고객 생산성 향상에 기여한다고 설명합니다. 3온도 핸들러와 탈착식 ATC 유닛은 각각 저온 운용과 테스트 중 동적 온도 제어에 대응하는 두 가지 온도 관리 접근을 제공합니다.
전시 제품
North Star platform handler 제품군에는 플래그십 NX-1032XS, 하이엔드 NS-8160MS 및 NS-8080MS, 미들레인지 NS-8080SH 및 NS-8040SH, 3온도 NS-8080MT, NS-8160GT, NS-8320XT가 포함됩니다. 플래그십 NX-1032XS는 입출력 측에 X-Y pitch 개폐 hand를 사용해 최대 20,000 units/hour 처리량을 제공합니다. NX-1032XS의 최대 동시 테스트 수는 32 sites입니다. NS-8160MS와 NS-8080MS는 유연성과 고속 처리량을 함께 제공하도록 설계된 하이엔드 모델입니다. Socket Layout Kit를 이용하면 socket pitch와 테스트 site 수를 빠르게 변경할 수 있습니다. 하이엔드 모델은 14,500 units/hour 처리량과 최대 16 sites 동시 테스트를 제공합니다. NS-8080SH와 NS-8040SH는 성능과 경제성을 함께 고려한 미들레인지 모델입니다. 이 모델들은 14,500 units/hour 처리량과 최대 8 sites 동시 테스트를 지원합니다. 3온도 NS-8080MT, NS-8160GT, NS-8320XT는 기존 고온 모델의 검증된 안정성과 사용자 친화적 조작성을 계승하는 설계 개념을 사용합니다. 최대 동시 테스트 수는 NS-8080MT 8 sites, NS-8160GT 16 sites, NS-8320XT 32 sites입니다. 3온도 모델의 온도 범위는 -55°C~130°C이며 옵션으로 175°C까지 지원합니다. 전체 제품군은 플래그십, 하이엔드, 미들레인지, 저온 또는 3온도 IC 테스트 핸들링 구성을 포함하며 서로 다른 처리량과 병렬 테스트 용량을 제공합니다. 플랫폼 제조 방식은 핸들러 안정성, 선택 가능한 테스트 site 수, socket layout 유연성, 온도 제어 옵션을 IC 테스트 워크플로에 결합합니다. 모델 계층은 20,000 units/hour와 32 sites의 플래그십, 14,500 units/hour와 최대 16 sites의 하이엔드, 14,500 units/hour와 최대 8 sites의 미들레인지, 그리고 8·16·32 sites 구성을 제공하는 3온도 제품군으로 구분됩니다. 하이엔드 모델은 Socket Layout Kit 재구성을 통해 유연성과 고속 UPH를 강조하고, 미들레인지는 성능과 경제성, 3온도 모델은 기존 고온 장비의 안정성과 조작성 개념을 이어갑니다. North Star platform 전체는 플래그십 처리량, 유연한 하이엔드 구성, 경제성을 고려한 미들레인지 핸들링, 저온 3온도 기능을 포괄합니다.
역량 및 제품
- 3온 IC 테스트 핸들러
- IC 테스트 동적 온도 제어용 ATC 유닛
- North Star IC 테스트 핸들러 제조
- 최대 32-site 병렬 IC 테스트
- -55°C~130°C(옵션 175°C) 3온 테스트