기본 정보
| 부스 | J2440 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.newfast-semi.com |
회사 소개
New Fast Technology Co., Ltd.는 화학 분석 응용을 위한 장비 통합에 집중합니다. 또 다른 핵심 업무는 화학 분석용 미량 분석 방법을 개발하는 것입니다. 회사의 화학 분석 업무에는 화학 정밀 계측기와 장비가 포함되며 이를 통합 시스템의 구성 요소로 다룹니다. 가스 크로마토그래피는 시스템 통합에 명시된 분석 계측 기술 중 하나입니다. 질량분석도 회사의 시스템 통합 범위에 포함되는 분석 계측 기술입니다. 액체 크로마토그래피 역시 화학 정밀 계측기 및 장비 통합의 기반으로 명시됩니다. 따라서 New Fast Technology Co., Ltd.는 화학 분석 장비 업무에서 가스 크로마토그래피, 질량분석, 액체 크로마토그래피 기반 시스템을 통합합니다. 각종 분석 계측기의 시스템 통합 외에도 이러한 통합 업무와 연계되는 화학 분석 시스템 기술을 제공합니다. 회사는 화학 분석 역량의 일부로 화학 분석 실험실을 운영합니다. 이 실험실은 환경 오염의 미량 검출 방법을 개발합니다. 실험실 업무는 기존 분석 절차를 실행하는 데 그치지 않고 화학 분석 방법 자체의 연구개발도 포함합니다. 화학 분석 방법은 고객이 요청한 구체적인 화학 분석 요구를 기반으로 개발할 수 있으며 방법 자체를 고객 요구에 맞춥니다. 이러한 고객 요청 기반 화학 분석 방법 개발은 프로젝트 단위로 진행됩니다. 방법 개발 후 New Fast Technology Co., Ltd.는 장기 기술 이전을 제공할 수 있습니다. 또한 위탁 시험도 제공하므로 고객은 기술 이전 외에 시험 자체를 회사에 맡기는 선택지를 가질 수 있습니다. 전체 역량은 장비 통합, 분석 계측 시스템 통합, 미량 화학 분석 방법 개발, 환경 오염 미량 검출, 고객 맞춤형 화학 분석 방법 연구개발, 장기 기술 이전, 위탁 화학 시험을 포함합니다. 화학 분석 실험실과 장비 통합 업무를 결합함으로써 하나의 고객 프로젝트 안에서 분석 방법 개발 측면과 분석 계측 시스템 통합 측면을 모두 다룰 수 있습니다. 새로운 분석 접근법이 필요한 프로젝트에서는 요청에 맞춰 방법을 개발한 후 장기 기술 이전으로 지속적인 사용을 지원하거나 위탁 방식으로 시험을 수행할 수 있습니다.
전시 제품
반도체 관련 제공 내용은 반도체 미세 오염 모니터링 솔루션입니다. 이 반도체 미세 오염 모니터링은 회사의 미량 화학 분석 방법 개발, 정밀 계측기 및 장비 시스템 통합, 화학 분석 실험실 역량과 결합되어 기존의 미량 화학 분석 및 계측 통합 업무 범위 안에 위치합니다.
역량 및 제품
- GC / MS / LC 화학 분석 시스템 통합
- 미량 화학 분석법 개발
- 환경 미량 오염 화학 분석법 개발
- 화학 분석 기술 이전
- 화학 분석 위탁 시험
- 반도체 미세 오염 모니터링 솔루션