기본 정보
| 부스 | N0570 |
| 국가 | US |
| 웹사이트 | www.intest-ems.com |
회사 소개
inTEST EMS Corporation은 반도체 제조사가 집적회로와 웨이퍼 제품을 시험하는 데 사용하는 제품을 설계, 제조 및 판매하며 반도체 자동 시험과 디바이스 핸들링 환경에 장비를 제공합니다.1981년 이후 솔루션은 test-head manipulators, docking hardware 및 test interfaces로 확대되었고 자동 시험 시스템과 디바이스 핸들링 장비를 정확성, 반복성, 안전성 및 조작 편의성을 유지하며 연결합니다. 회사는 전 세계 판매 및 서비스 네트워크를 통해 end-user와 OEM 고객을 지원하며 제품이 연결하고 위치를 잡는 반도체 양산 시험 장비 주변을 지원합니다. inTEST EMS Corporation은 end user와 OEM의 ATE 양산 시험 장비를 지원하는 manipulator 및 docking systems로 반도체 산업을 40년 넘게 지원해 왔다고 밝힙니다.1998년 TestDesign 인수를 통해 양산 시험 분야를 tester-interface 제품으로 확대하여 1981년부터 구축한 manipulator 및 docking-system 사업에 tester interfaces를 추가했습니다. 회사의 엔지니어들은 평균 20년 이상의 시험 산업 경험을 갖고 있으며 이 엔지니어링 경험을 사내 제조 역량과 결합해 고객별 요구를 지원합니다.
전시 제품
parametric wafer testing부터 functional test까지 inTEST EMS Corporation은 자동화 시험 셀을 완성하는 데 필요한 기계 및 전기 시스템을 설계하고 제조하며, ATE 테스트 헤드 위치 설정, 디바이스 핸들링 장비와의 연결, tester의 전기 연결을 prober 또는 final-test handler 환경으로 이어 주는 주변 통합까지 지원합니다. manipulators는 반도체 ATE 테스트 헤드를 위치시키고 docking systems는 ATE 테스트 헤드를 wafer probers와 package test handlers에 빠르고 안전하게 연결하며, test interfaces는 tester를 prober 또는 final-test handler에 전기적으로 연결합니다. 회사는 Engineering을 사업의 핵심으로 설명하며 500종이 넘는 test-head-manipulator 모델, 10,000개의 docking products 및 2,000종이 넘는 tester interfaces를 설계하고 제조했고, 이 수치를 기계 및 전기 시험 셀의 custom-solutions 역량 일부로 제시합니다. inTEST EMS Corporation은 대부분의 ATE와 probers, handlers 및 기타 test-related peripherals 조합을 위한 맞춤형 docking hardware를 설계하고 제조할 수 있으며 엔지니어링 팀과 사내 제조로 고객별 통합 요구를 지원합니다. 제품은 더 빠른 test set-ups, 더 높은 ATE utilization, 더 나은 throughput, yield 향상 및 floor efficiency 개선을 목표로 하여 기계 핸들링과 전기 인터페이스를 양산 시험 효율과 연결합니다. 회사가 제시하는 시험 응용은 Automotive, 5G, Power Management, Wireless / Mobility & Telecommunications, Aerospace/Defense, Internet of Things, Industry 4.0 및 Consumer Products를 포함하며, 이를 반도체 시험 장비가 자동 시험 통합을 지원하는 산업 및 최종 용도로 제시해 manipulator, docking 및 interface 제품군을 단일 소자 범주에 한정하지 않습니다. test-head manipulators, ATE docking hardware, semiconductor test interfaces 및 맞춤형 automated-test-cell systems를 통해 parametric wafer testing부터 functional 및 final-test 작업까지 ATE-to-prober와 ATE-to-handler 연결을 지원합니다.
역량 및 제품
- 반도체 ATE 테스트 헤드 Manipulator
- ATE와 Wafer Prober/Package Handler 도킹 시스템
- Tester-Prober/Final-test Handler 전기 인터페이스
- 자동 테스트 셀 기계·전기 시스템 설계·제조
- 맞춤형 ATE Docking Hardware 설계·제조