基本情報
| ブース | P5224 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation |
| ウェブサイト | www.gpcltd.com.tw |
会社概要
起源：半導体装置の専門性を堅持し、Great Precision Co., Ltd.は、半導体産業および光電子半導体産業向けに一連の後工程装置と、カスタマイズされた研究開発・設計による自動化装置を提供するために設立されました。展開：GPC独自の技術と専門知識により、半導体産業の後工程装置を起点として、他産業の自動化装置ニーズへと展開し、現在対応する産業カテゴリには、集積回路／整流器／パワートランジスタ／光学部品／記憶媒体／受動部品など、高性能・高精度の自動生産装置が含まれます。さらに、自動車／医療バイオテクノロジー／液晶パネルなど、業界を横断する自動化装置の開発・製造も行っています。ビジョンと目標：・自動車／医療バイオテクノロジー／液晶パネルなど、業界横断の自動化装置の開発・製造。・お客様の工程の標準化を実現し、ライン全体および工場全体の自動化装置の効率を最大化する。・インダストリー4.0の応用。
対応領域・製品
- IC およびパワーデバイス向け高精度自動生産装置
- wafer および substrate metrology
- カスタム自動化装置の研究開発および設計
- トポロジー、ナノトポグラフィ、平坦度測定
- 半導体後工程プロセス装置
- 結晶方位測定