기본 정보
| 부스 | J2338 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.dimond-shamrock.com |
회사 소개
Dimond Shamrock Enterprise Co., Ltd.는 문제 해결을 포함한 전기 전도도 시험과 각종 측정에 집중하며 측정 업무와 문제 진단을 회사가 밝힌 사업 초점의 일부로 두고 있습니다. 회사는 한국산 프로브를 대리 판매하는 동시에 대만산 기타 제품도 제공하고, 공급하는 제품과 서비스에 대해 품질 관리와 비용 관리를 모두 제공할 수 있다고 설명합니다. 현재 유통 채널은 동남아시아, 중국 본토, 한국을 포함해 대만의 운영 기반을 넘어 지역 공급 네트워크를 형성합니다. Dimond Shamrock Enterprise Co., Ltd.는 1999년에 반도체 패키징 후공정 테스트 분야에 진출했으며 이후 이 사업을 반도체 후공정 테스트용 시험 제품과 지원에 중점을 두고 전개해 왔습니다. 회사는 대만을 경영관리 기지로 두고 상하이와 선전에 지사와 사무소를 설치해 테스트 분야의 공급 및 고객 서비스 범위를 확대하고 있습니다. 회사는 장비를 갖춘 품질보증 검사 부서를 운영하며 ISO 9001:2015 품질관리 인증을 취득해 이를 품질관리 체계의 일부로 제시합니다. 취급하는 LEENO 제품은 1978년에 설립되어 IC 제품, 테스트 및 분석에 필요한 테스트 부품 생산을 전문으로 하는 제조사의 제품이며 신뢰성, 품질, 지속적인 혁신, 고객 요구에 대한 빠른 대응을 강조합니다.
전시 제품
반도체 패키징 후공정 테스트 용도에서 Dimond Shamrock Enterprise Co., Ltd.는 한국 LEENO 프로브와 지그 제품의 독점 대리를 중심으로 하며 대만산 각종 테스트 소모품과 전문 맞춤형의 다양한 테스트 제품도 공급합니다. 반도체 프로브는 반도체 장치 테스트의 핵심 부품으로 설명되며, 테스트 중 시험 장비와 반도체 웨이퍼 또는 패키지 칩 사이에 전기적 연결을 형성해 장치의 기능, 성능, 신뢰성이 요구 규격을 충족하는지 확인하도록 돕습니다. 프로브 제품은 신호 전송과 측정 정확성을 위한 높은 정밀도, 반복 테스트 사이클을 견디는 내구성, 다양한 핀 수와 피치 요구에 대응하는 확장성, 특정 장비와 응용 요구에 맞춘 설계를 위한 맞춤성을 주요 특징으로 제시합니다. 구체적인 프로브 제품에는 Fine Pitch Probe, RF Probe, Coaxial Probe for 100GHz가 포함되어 회사가 제시하지 않은 추가 사양을 붙이지 않고 미세 피치, 무선주파수, 고주파 동축 테스트 요구를 포괄합니다. 더 넓은 반도체 테스트 제품 메뉴에는 Semiconductor Probe, ICT (Spring Contact Probe), Logic Test Socket, RF Socket, Probe Head, Memory Test Socket, 도전성 고무 지그/Elastomer Socket, SLT Socket, 맞춤형-메모리 모듈 DRAM Module, PCB 테스트가 기재되어 있습니다. 명시된 시장 응용은 첨단 패키징, 반도체, 소비자 전자, AI 인공지능, RF 무선주파수, 산업용 컴퓨터 및 서버, 디스플레이, 자율주행차를 포함합니다. 취급 제품군에서 LEENO는 IC 제품, 테스트 및 분석에 필요한 테스트 부품에 집중하며 Dimond Shamrock Enterprise Co., Ltd.가 공급하는 프로브, 지그, 대만산 테스트 소모품, 맞춤형 테스트 제품과 함께 반도체 테스트 환경을 지원합니다.
역량 및 제품
- 전도도 시험 및 측정 문제 해결
- LEENO 프로브 및 지그 독점 대리
- 반도체 테스트 소모품 공급
- 맞춤형 반도체 테스트 제품 공급
- Fine Pitch Probe 공급
- RF Probe 공급
- 100GHz 동축 프로브 공급
- ICT 스프링 접촉 프로브 공급
- Logic Test Socket 공급
- RF Socket 공급
- Memory Test Socket 공급
- Elastomer Socket 공급
- SLT Socket 공급
- Probe Head 공급
- DRAM 모듈 맞춤형 테스트 제품
- PCB 테스트 제품 공급