기본 정보
| 부스 | K2040 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.ark-tek.com |
회사 소개
ARKTEK CO., LTD.는 대만의 자동화 및 반도체 테스트 주변 장비 기업으로, 반도체 테스트 공정의 주변에서 사용하는 장비와 부품을 주요 업무 대상으로 합니다. 회사는 반도체 테스트 인터페이스와 반도체 테스트 주변 장비의 공정 개선 및 장비 개발 분야에서 20년 이상의 경험을 보유하며, 이 경험은 인터페이스와 주변 장비 두 영역을 함께 포함합니다. ARKTEK CO., LTD.의 기술팀은 기계, 전기, 제어, 소프트웨어 기능을 포괄하므로 하나의 조직 안에서 여러 공학 분야를 결합하여 장비 개발을 수행할 수 있습니다. 사업 범위에는 자동화 장비, 전용기, 반도체 테스트 주변 장비, 반도체 테스트 인터페이스 부품, 정밀 가공 부품이 포함되어 장비와 부품을 함께 다룹니다. 회사는 이러한 공학 기능을 공정 개선과 장비 개발에 적용하여 기구 설계, 전기 기능, 제어 시스템, 소프트웨어 기능을 반도체 테스트 공정의 요구와 연결합니다. ARKTEK CO., LTD.는 이후 장비 활동을 반도체 및 광전자 장비 응용에 집중하면서 두 분야를 자동화, 전용 장비, 테스트 관련 역량의 주요 적용 환경으로 삼았습니다. 반도체 테스트 분야에서는 테스트 공정의 주변 장비와 반도체 테스트 인터페이스 부품을 모두 명시적으로 다루므로 테스트 작업을 지원하는 장비뿐 아니라 테스트에 사용하는 인터페이스 부품도 공급 범위에 포함합니다. 자동화 장비, 전용기, 테스트 주변 장비, 테스트 인터페이스 부품, 정밀 가공 부품은 서로 관련 없는 개별 제품이 아니라 ARKTEK CO., LTD.의 하나의 장비 개발 범위 안에서 함께 제시됩니다.
전시 제품
ARKTEK CO., LTD.의 반도체 테스트 장비에는 CP Testing용 Auto hinger, 3 in 1 Die Sorter, Ink Die tester handler, Auto Flash Device Test Handler, Multi-Tray test Handler, MEMS Accelerometer Testing 장비, Die Clean system이 포함된다. Auto hinger는 CP Testing과 명확히 연결되어 반도체 전기 테스트 작업의 핸들링 및 주변 장비 단계에 위치한다. 3 in 1 Die Sorter와 Ink Die tester handler는 다이 분류 및 다이 테스트 핸들링을 담당하고 Auto Flash Device Test Handler와 Multi-Tray test Handler는 자동 소자 및 멀티 트레이 핸들링 기능을 추가한다. MEMS Accelerometer Testing도 반도체 테스트 응용으로 제시되어 일반 다이·소자 핸들링뿐 아니라 MEMS 가속도계 시험을 포함한다. Die Clean system도 목록에 있어 테스트 관련 장비군에 다이 세정 기능을 더한다. 반도체 테스트 주변 장비로는 AMP50 Universal Manipulator, AMP120 Universal Manipulator, AMP180 Universal Manipulator 세 가지 모델이 제시된다. 이 Universal Manipulator 모델들은 반도체 테스트 주변 장비 및 테스트 인터페이스 부품 사업과 함께 테스트 작업 주변의 위치 결정 또는 핸들링을 위한 제품군을 구성한다. 제품 소개는 반도체 테스트 주변 장비, 반도체 테스트 인터페이스 부품, Semiconductor -New Product Launch를 핵심 범주로도 명시한다. 여러 handler, sorter, MEMS 시험 장비, Die Clean system, AMP Universal Manipulator를 합치면 반도체 테스트의 여러 단계와 지원 기능을 중심으로 한 자동화 장비 포트폴리오가 형성된다.
역량 및 제품
- CP 테스트 자동 핸들러
- 3-in-1 다이 소터
- Ink Die 테스터 핸들러
- Flash Device 자동 테스트 핸들러
- Multi-Tray 테스트 핸들러
- MEMS 가속도계 테스트
- 다이 클리닝 시스템
- 반도체 테스트용 유니버설 매니퓰레이터